熱門搜索：掃描電鏡，臺式掃描電鏡，制樣設備CP離子研磨儀，原位樣品桿，可視化顆粒檢測，高分辨臺式顯微 CT，粉末原子層沉積系統(tǒng)，納米氣溶膠沉積系統(tǒng)
您好，歡迎訪問復納科學儀器（上海）有限公司！ 咨詢熱線：18516656178
您的位置：網(wǎng)站首頁 > 產(chǎn)品展示 > 飛納電鏡 > 掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測
結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術的一大進步?？焖佟⒁子煤统逦上褓|量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個強大工具。
Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術的一大進步?？焖佟⒁子煤统逦鷪D像質量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。
電話4008578882
傳真 
郵箱cici.yang@phenom-china.com
公司地址上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路88號上海虹橋麗寶廣場T5，705室
在線交流